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NI工业测量、监测与智能控制应用研讨会
2017-12-06 12:22:27   
随着国家积极推动工业化与信息化两化深度融合以及工业物联网、智能制造的快速发展,传统工业和制造领域将迎来巨大的机遇和挑战。为了迎合工业4.0下生产高效化、智能化、可靠化的浪潮,NI诚邀您参加 “NI工业测量、监测与智能控制应用研讨会”。

本次研讨会将结合NI成功应用案例及现场demo展示,为工业设备互联互通、分布式数据采集、状态监测及预测性维护、工业大数据分析、智能控制、实时测试等领域的痛点及难点提供创新、高效的解决方案。NI基于平台化的解决方案,为智能工业系统提供了完整的嵌入式监测及开发平台,加速融合信息与工业网络,助力应对时代变革!
時間 内容
14:00 - 14:40 
•  主题演讲:NI平台化解决方案助力加速实现工业物联网与大数据创新应用
14:45 - 15:00 
•  Demo 展示
15:00 - 15:40
15:40 - 16:20
(三选二) 
•  智能工业控制系统设计及案例分享
•  下一代工业设备分布式状态监测企业级解决方案
•  基于NI嵌入式平台的新一代实时测试系统
16:20 - 17:00 
•  NI嵌入式平台开发步骤及技巧
•  工业数据采集发展趋势及关键技术应用
 
时间:2017年12月12日 2:00 PM – 5:00 PM
地点:深圳益田威斯汀酒店会议室7+8|深圳市南山区深南大道9028号-2
  
可选题目内容简介

NI嵌入式平台开发步骤及技巧:介绍基于NI嵌入式平台的LabVIEW RT及FPGA设计流程及技巧,从创建一个包含采集、处理和输出的FPGA程序开始,到如何合理地进行FPGA算法开发,快速开始嵌入式应用。
工业数据采集发展趋势及关键技术应用:通过对当今数据采集技术趋势进行深入浅出的分析,梳理数据采集的关键技术应用。并详细介绍NI作为数据采集行业的领导者,如何应对新时代的挑战,更好的满足数据采集的各种需求。

查询进一步信息,请访问官方网站http://www.ni.com。    (完)
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